滿足標(biāo)準(zhǔn)

♦GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

♦GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

♦GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

♦GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

♦GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

♦GJB150.3-86 設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 高溫沖擊試驗(yàn)

♦GJB150.4-86 設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 低溫沖擊試驗(yàn)

♦GJB150.5-86 設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

♦GJB360.7-87 電子機(jī)電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介：

  冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品可做冷熱沖擊，也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。廣泛應(yīng)用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域，可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷，做應(yīng)力篩選試驗(yàn)，提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制。